ZA57630 – Impedanz-Analysator

»Echte Werte« – Wahre Eigenschaften messen

Für ein breites Spektrum von Anforderungen an die Impedanzmessung, von elektronischen Bauteilen und Halbleiterbauelementen bis hin zur Bewertung der Material- und Stoffeigenschaften.

Grundgenauigkeit±0,08 %
Messbereich Frequenz10 µHz bis 36 MHz
Messbereich Impedanz10 µΩ bis 100 GΩ (Modus: IMPD-EXT)
Messbereich Signalamplitude0,01 mVrms bis 3 Vrms
0,1 µArms bis 60 mArms
DC BIAS–5 V bis +5 V / −40 V bis +40 V (>1 kHz)
–100 mA bis +100 mA
Messdauer0,5 ms / Mess-Punkt
MessartenZ, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp,
θz, θy, D, Dε, Dµ, Q, V, I, εs, εs’, εs”,
µs, µs’, µs”, Frequenz

Übersicht

Hochgeschwindigkeitsmessung – 0,5 ms / Messung

  • schnellstmögliche Messung in der Branche mit 0,5 ms / Punkt
  • Taktzeit reduzieren
  • bei Erhöhen der einzustellenden Messzeit werden die einzelnen Messergebnisse gemittelt und der Einfluss von Rauschen verringert
  • auswählen der optimalen Messzeit nach Bedarf

Vier Messmodi – für eine breite Palette von Prüflingen

IMPD-3T – Standardmodus

  • bietet hochgenaue Messungen über einen breiten Frequenzbereich
  • Prüfleitungen und Prüfvorrichtungen können für Prüfmaterialien mit verschiedenen Formen verwendet werden

IMPD-2T – Hochfrequenzmessung

  • stabilere Messungen bei Hochfrequenzen von 10 MHz oder mehr
  • stabile Messungen auch bei Verwendung langer Kabel mit 2-poligen Messungen mit N-Steckern

IMPD-EXT – erweiterter Messmodus

  • ermöglicht den Anschluss externer Verstärker, Shunt-Widerstände oder anderer Geräte
  • ermöglicht Messungen außerhalb der Gerätespezifikationen,
    z. B. Anlegen hoher Spannungen oder Erkennen kleiner Spannungen / Ströme

G-PH – Verstärkungs- / Phasenmessmodus

  • bietet Messungen der Übertragungseigenschaften von Geräten wie Filtern und Verstärkern
  • misst den Frequenzgang (Verstärkung, Phase) genau,
    wenn ein Wobbelsignal an die gemessene Schaltung angelegt wird

Messanschlüsse an der Vorderseite

Features

  • Vielzahl von Funktionen für jede Anwendung
  • wiederholbare und genaue Messungen
  • genaue Bewertungen unter tatsächlichen Nutzungsbedingungen

Elektronische Teile und Materialien können unterschiedliche Eigenschaften bei unterschiedlichen Messfrequenzen oder bei Anlegen unterschiedlicher Signalpegel anzeigen.

Um die tatsächlichen Eigenschaften zu beurteilen, ist es wichtig, Messungen unter tatsächlichen Betriebsbedingungen durchzuführen, indem Frequenz, Wechselstromamplitude und Gleichstromvorspannung gewobbelt werden.

SWEEP – Frequenz, Wechselstromamplitude, Gleichstromvorspannung, Nullspanne (Zero Span)

Wechselstrom-Amplituden-Sweep

Frequenz-Sweep

DC BIAS-Sweep

Zero span

Führt Messungen unter festen Bedingungen durch, ohne die Frequenz, die Wechselstromamplitude oder die Gleichstromvorspannungsparameter zu ändern, um die Änderung der Eigenschaften über die Zeit (horizontale Achse) zu beobachten.

Für Messungen an Fertigungsanlagen

Auch für punktuelle Messungen

Misst eine feste Frequenz, Wechselstromamplitude und Gleichstromvorspannung und zeigt die Ergebnisse als numerische Werte an. Es können bis zu 6 Elemente konfiguriert werden.

Einstellung von Messungen und anderen Bedingungen

Intuitive Einstellungen auf einem einzigen Bildschirm

Einstellungselemente (SETTING VIEW)

Graph axis setting

Einstellungen für die Diagrammachsen

Einstellungen für die Frequenz

Einstellung der Grafikachse

Messbereich

  • Automatischer Bereich
    Führt Messungen durch, indem der optimale Messbereich automatisch eingestellt wird, während die Messergebnisse überwacht werden. Dies ist sinnvoll, wenn sich die Messdaten erheblich ändern.
  • Fester Bereich
    Der Messbereich ist fest eingestellt, wodurch Diskontinuität (Sprünge) im Messwert aufgrund von Änderungen im Bereich vermieden werden.

Messverzögerungsfunktion

  • Wenn Sweep-Parameter wie Frequenz oder AC-Amplitude während eines laufenden Sweeps geändert werden, können aufgrund des Einschwingverhaltens falsche Messergebnisse erzeugt werden.
  • Die Zeit bis zum Beginn der Messungen nach der Änderung der Parameter kann verzögert werden.
  • Es stehen zwei Verzögerungsarten zur Verfügung: »Messstartverzögerung« und »Messverzögerung«.

Automatischer High Density Sweep

  • Diese Funktion erhöht automatisch die Frequenzdichte nur für Abschnitte, in denen sich die Messdaten während der Frequenzsweep-Messungen plötzlich ändern.
  • Bei Messungen der Resonanzcharakteristik von Geräten wie piezoelektrischen Vibratoren und Kristalloszillatoren ist diese Funktion nützlich.

Funktion Fehlerkorrektur

Korrekturen der Ursachen von Messfehlern für genaue Bewertungen.

Um genaue Messungen durchzuführen, müssen verschiedene Messfehlerursachen wie Restimpedanz und Kabellänge richtig korrigiert werden.

Offene Korrektur

 

  • Verringert durch Restadmittanz verursachte Fehler

Kurz-Korrektur

  • Verringert durch Restimpedanz verursachte Fehler

Lastkorrektur

  • Korrigiert Abweichungen von den wahren Werten unter Verwendung von Proben mit bekannten Werten als Standardimpedanz

Port-Erweiterung

  • Korrigiert Phasenfehler aufgrund von Übertragungsverzögerungen bei Verwendung langer Kabel

Steigungskompensation

  • Entfernt die Auswirkungen der im Messsignal enthaltenen Potenzialschwankungswelle.
    Wirksam bei Messungen von Proben wie Batterien mit Potenzialänderungen durch Laden und Entladen

Entzerrung

  • Misst die Frequenzeigenschaften von Sensoren, Kabeln und anderen extern angeschlossenen Messgeräten und korrigiert den Fehlerbetrag dieser Messgeräte

Eingangsgewichtung

  • Korrigiert die Sondenabschwächung oder die Vorverstärkung

Selbst-Kalibrierung

  • Selbst-Kalibrierung von Fehlern

 Kontrolle von Markern

  • Liest die im Diagramm angezeigten Messwerte für X, Y1 und Y2.
  • Es können bis zu 8 Marker verwendet werden.

Δ Marker

  • Zeigt die Differenz zum Standardmarker (Marker 1) an.

Δ TRKG-Marker

  • Zeigt die Differenz auf dieselbe Weise wie der Differenzmarker an. Wenn der Marker 1 bewegt wird, bewegt er sich, während die Differenz des Sweep-Wertes konstant bleibt.

Marker-Suchfunktion

  • Sucht automatisch nach Punkten, die den Einstellbedingungen entsprechen

Sequenzmessfunktion

  • Mehrere Messbedingungen werden im Voraus festgelegt, und diese Funktion führt die Messungen der Reihe nach unter diesen Bedingungen durch.
  • Der Wobbelbereich kann in Segmente aufgeteilt werden, wobei die Messungen unter verschiedenen Bedingungen für jeden Segmentbereich durchgeführt werden.
  • Ermöglicht effiziente Messungen von keramischen Vielschichtkondensatoren (MLCC) und anderen Bauteilen mit spannungsabhängigen Eigenschaften.

 Grafikanzeige

Single/Split-Anzeige

  • Wahl zwischen
    "SINGLE" mit einem Graph pro Bildschirm oder
    "SPLIT" mit zwei Graphen, die oben und unten angezeigt werden

Steuerung der Phasenanzeige

  • ±180°, 0° bis +360°, -360° bis 0°
  • UNWRAP (kontinuierliche Anzeige)
  • 360°-Verschiebung
  • Apertur (Gruppenverzögerungsmerkmale)

Trace-Steuerung

  • Ermöglicht das Überschreiben der Messdatenkurve (MEAS) und von bis zu 8 Referenzdatenkurven (REF)

Automatisches Speichern

  • Nach Abschluss der Sweep-Messung kopiert diese Funktion automatisch die MEAS-Spur in die REF-Spur.
● SPLIT-Anzeige
● Automatische Speicherung

Abmessungen

Downloads

Links

Weitere Informationen auf der Herstellerseite:
Opens external link in new window www.nfcorp.co.jp/english/pro/mi/zm/za/za/za57630/index.html